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Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid
Publicada

Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregida JEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid

Rectorado de la Universidad Complutense de Madrid · Madrid, Comunidad de Madrid

Cerrado
Plazo cerrado el 30 jun 2025
3.2/5
Buena oportunidad

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Objeto del contrato

Descripción
Suministro e instalación de una cámara de detección directa de electrones para el microscopio con aberración corregidaJEMARM200cF del Centro Nacional de Microscopía Electrónica para la Universidad Complutense de Madrid, financiado por el Ministeriode Ciencia, Innovación y Universidades, la Agencia Estatal de Investigación y por la Unión Europea ( enmarcado en la actuaciónEQC2024-008160-P financiado por MCIU/ AEI / 10.13039/501100011033 / UE, FEDER) y por la Universidad Complutense de Madrid
Sector
Mobiliario y equipamiento
Tipo
Suministros · Abierto
CPV
38430000Aparatos de detección y análisis
Ejecución
Madrid, Comunidad de Madrid
Tramitación
Publicada2 jun 2025
Evaluación
Adjudicación
Ejecución

Inteligencia competitiva

Profesional

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Perfil de compraPanorama competitivoAlertas y seguimiento

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Órgano de contratación

Fuente: TED · Datos tratados por Licto