SUMINISTRO, INSTALACIÓN Y PUESTA EN MARCHA DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN CON CORRECTORES DE ABERRACIONES (AC-(S)TEM) Y DE UN SISTEMA DE HAZ DE IONES FOCALIZADO (FIB), DIVIDIDO EN 2 LOTES, PARA EL INSTITUT CATALÀ DE NANOCIÈNCIA I NANOTECNOLOGIA (ICN2)

Lote 1: o\tCaracterización estructural y química con resolución atómica de materiales mediante la corrección de aberraciones tanto en la lente condensadora en la sonda (cañón) como en la lente de objetivo (doble corrección).o\tCaracterización con resolución atómica en modo TEM, STEM, EDX e EELS.o\tAdquisición y reconstrucción mediante Tomografía electrónica de la morfología y composición 3D de las nanoestructuraso\tObtención de espectros de pérdida energética de los electrones en condiciones de alta resolución energética y espacial.o\tObtención de mapas de composición 2D y 3D mediante espectroscopía EDX.Lote 2: o\tObservación de muestras mediante el haz de iones y electrones con una alta resolución tanto espacial como energética del haz para poder visualizar detalles nanométricos.o\tPreparación de muestras/lamelas para (S)TEM de distintos materiales y nanoestructuras con alta precisión. Para cumplir este requisito, el equipo deberá tener un cañón de electrones de alta resolución para el posicionamiento y control del proceso, así como un cañón de iones que permita adelgazar las muestras en un alto rango de voltajes e intensidades, desde alto voltaje y alta intensidad para procesos de adelgazamiento rápidos y/o masivos, hasta bajo voltaje e intensidad para poder eliminar las zonas amorfizadas durante el ataque a altos voltajes y tener una calidad final de la lamela óptima.o\tDepósito controlado de Carbono (C) y Tungsteno (W). Se requerirán al menos dos inyectores (C y W) para poder realizar los recubrimientos protectores de las estructuras a adelgazar, así como para poder pegar estas a las rejillas (S)TEM.o\tEl sistema debe permitir la preparación de lamelas para (S)TEM con una alta precisión, control, calidad final y un alto grado de automatización.o\tEl sistema debe permitir la extracción de las lamelas y un posicionamiento preciso de éstas en las rejillas portamuestras (S)TEM mediante nanomanipulador.